РЭМ Coxem EM-30AX
Описание
| Увеличение | x20-x150 000 (эффективное: ~x80 000) |
| Ускоряющее напряжение | 1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ) |
| Электронная пушка | Вольфрамовый филамент (W) |
| Детекторы | SE, BSE (4-канальный, твердотельный) |
| ЭДС | Oxford: 130 эВ с MnK, C(6) ~ U(92) |
| EDAX | 133 эВ с MnK, Be(4) ~U(92) |
| Столик моторизированный | (X: 35 мм, Y: 35 мм, T: 0-45°) |
| Столик с ручным приводом | (Z: 5-50 мм) |
| Смещение изображения | X, Y, R (вращение) |
| Операционная система | Microsoft Windows 7 |
| Размеры | 400 (Ш) x 600 (Д) x 550 (В) мм |
| Вес | 95 кг |
Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдения как природных объектов, так и искусственных материалов.
ЭДС
OXFORD
- Аналитическое ПО Tru-Q использует множество алгоритмов, чем обеспечивает точные результаты
- Поддержка нескольких языков
- Быстрый и простой анализ с меню типа блок-схемы
- Типы элементного анализа: в точке или области, по линии, картирование, наложение линий, коррекция фона.
- Количественный анализ: по линии, картирование
EDAX
- Кремний дрейфовый детектор высокой производительности
- Площадь сенсора: 30 мм2
- Точный анализ лёгких элементов, диапазон анализа: от Be (4) до Am (95)
- Типы элементного анализа: в точке или области, по линии, картирование
Преимущества
OXFORD
| Отчеты и сохранение данных | В библиотеке ПО хранятся готовые шаблоны отчётов. Для создания новых используется генератор отчётов. Данные можно хранить, копировать, распечатывать и отправлять по электронной почте из программы анализа. |
| Отчёты ЭДС | Программа предлагается на различных языках, включая корейский, английский, японский, упрощенный китайский, русский, французский и португальский. |
| Быстрые и эффективные результаты анализа в промышленности | Программа позволяет определять элементный состав образца вдоль линии, задаваемой пользователем. Для устранения наложения пиков и отсеивания ложных флуктуаций, связанных с фоновым рентгеновским излучением, выполняется коррекция результатов. |
| Анализ в точке и области | Спектр, отражающий элементный состав образца, можно получать из отдельных точек или областей. |
EDAX
| Отчеты и сохранение данных | Окно из нитрида кремния обеспечивает повышенную чувствительность в определении лёгких элементов на низких энергиях. |
| Отчёты ЭДС | Система управления данными TEAM™ EDS Smart предлагает новый уровень простоты и гибкости, благодаря динамическим отчётам и упрощённому управлению файлами. |
| Быстрые и эффективные результаты анализа в промышленности | Все результаты доступны в любое время, так же как и точная интерпретация спектров и данных микроэлементного анализа и количественного картирования |
Применение
- Производство смартфонов
- Электроника и микроэлектроника
- Химическая промышленность
- Строительство
- Солнечная энергетика
- Металлы Биоинженерия
