Description
Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии — SEM, ионно-лучевой литографии — FIB, просвечивающей электронной микроскопии — TEM, атомно-силовой микроскопии — AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя.
Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску.
Цифровые показатели на фронтальной панели показывают количественное удаление материала. Также можно установить предварительные значения для работы, не требующей постоянного присмотра.
Различная скорость вращения и колебания максимизируют использование всего диска шлифовки/полировки и снижают до минимума нежелательные искажения. Регулируемая нагрузка дает возможность подготовки различного ряда образцов от маленьких (тонких) до больших. Приспосабливаемый контроль загрузки позволяет работать как с маленькими, так и с большими образцами.
Разработано и произведено в США
Технические характеристики
- Цифровые индикаторы позволяют удалять пробу из тигля, которые контролируется в реальном времени или задаются автоматически
- Шпиндель устанавливает образец перпендикулярно к диску и в тоже время может поворачиваться
- Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску, угол наклона +10/-2,5°, точность 0.01°
- Задний цифровой индикатор отображает вертикальное положение с функцией обнуления, точность 1 мкм
- Автоматическое колебание регулируется 6-ю скоростями
- Система креплений устраняет необходимость дополнительных инструментов
- Полное или ограниченное автоматическое вращение с 8-ю скоростями
- Переменная типовая нагрузка, 0-600 г, с шагом 100г
- Переменная скорость пластины (тигля): 5-350 об/мин (шаг — 5 об/мин)
- Контроль с помощью сенсорных переключателей
- Двигатель 190 Вт
- Цифровой таймер и тахометр
- Вращение тигля по/против часовой стрелки
- Промывное устройство чаши для предотвращения наслоения грязи
- Электронный контроллер охлаждения с регулируемым клапаном
- Размеры:
система 203 мм 381 x 660 x 508 мм (Ш/Г/В);
система 305 мм 560 x 660 x 535 мм (Ш/Г/В);
- Масса:
система 203 мм 57 кг;
система 305 мм 75 кг;
КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 305 мм
| 15-2000-12-230 |
Система MultiPrep™ с диском 305 мм, 230 В, включает
№10-1010 алюминиевую пластину (диск) 305 мм, брызговое кольцо, защитное покрытие диска
№15-1020 Крепление параллельной полировки
№15-1030 Калибровочный набор с индикатором и видео CD с описанием управления процедурой выравнивания MultiPrep. |
КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 203 мм
| 15-2000-GI-230 |
Система MultiPrep™ с диском 203 мм, 230 В, включает
№10-1005 алюминиевую пластину (диск) 203 мм, брызговое кольцо, защитное покрытие диска
№15-1020 Крепление параллельной полировки,
№ 15-1030 Калибровочный набор с индикатором
№50-30076 Набор перекрывающих алмазных пленок 203 мм
№90-150-350 Набор красных финишных полирующих тканей с задним клеевым слоем
№180-25015 Коллоидальная суспензия диоксида кремния 0.04 микрон, объем 0,47 л и видео CD с описанием управления процедурой выравнивания MultiPrep. |
КОМПЛЕКТУЮЩИЕ
MultiPrep™, с диском 305 мм
| 10-1010 |
Алюминиевая пластина (диск), 305 мм |
| 10-1010M |
Алюминиевая магнитнаяпластина (диск), 305 мм |
MultiPrep™, с диском 203 мм
| 10-1005 |
Алюминиевая пластина (диск), 203 мм |
| 10-1005M |
Алюминиевая магнитнаяпластина (диск), 203 мм |
Широкий ряд разнообразных комплектующих доступен для систем с дисками диаметром 203 или 305 мм. Крепление с помощью зажи- ма исключает использование инструментов. Изготовлены с высокой точностью из высококачественного алюминия (токопроводящего) или нержавеющей стали (коррозийно стойкой) с притертой , тепловой или поверхностной обработкой для максимальной производительности и надежности.
 |
№15-1005
Адаптер с зажимом |
 |
№15-1013
Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии со вставкой из жаропрочного стекла |
 |
№15-1010
Лопасть поперечного сечения |
 |
№15-1010-RE
Лопасть поперечного сечения с референсным углом |
 |
№15-1014
Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии для утончения |
 |
№15-1018
Крепление для подготовки к SIMS, TEM микроскопии |
 |
№15-1020
Крепление параллельной полировки, 57 мм |
 |
№15-1020-80 или №15-1020-100
Крепление параллельной полировки, 80 или 100 мм |
 |
№15-1025
Держатель пробы, диаметр 38 мм |
 |
№15-1035
Весовой набор |
 |
№15-1045
Многоцелевое крепление образца, ширина 51 мм |
 |
№15-1046
Многоцелевое диагональное крепление, ширина 51 мм |
 |
№15-1047
Многоцелевое крепление образца, ширина 24 мм |
 |
№15-1048
Многоцелевое диагональное крепление, ширина 24 мм |
 |
№15-1050
Лопасть для поперечного сечения с зажимом |
 |
№15-1051
Лопасть для поперечного сечения с зажимом диагональной ориентации |
 |
№120-30015
Измерительная система с цифровым индикатором |
